专利名称：一种内径测量校准台的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种内径测量校准台。
背景技术：
传统的孔内径测量通常采用内径百分表或内径千分尺进行测量，但是在使 用中都有缺陷，如大的内径百分表虽然测量精度高读数方便，但使用太笨重。 而且量程小，使用时要配置很多种规格。用内径千分尺测量，虽然它可测量的 范围大，组装也方便，但由于测量时手感的误差大，读数也不是很方便，所以 达不到所需的精度要求，而且传统的方法采用千分尺作为校准基准，由于千分 尺自身有误差，并且它用量块比对又重复误差产生，所以误差较大。

实用新型内容
本实用新型针对现有技术中的不足，提供了一种内径测量校准台，该校准 台与内径表配合使用时，测量精度高，组装、测量方便。
为了解决上述技术问题，本实用新型通过下述技术方案得以解决
一种内径测量校准台，该校准台包括工作台，所述工作台平行设置一滑槽 和一线形导轨，所述滑槽的端部设有一挡块，滑槽容置有一滑板，滑板可沿着 滑槽移动，所述滑板的一侧边设置有第一滑块，所述第一滑块嵌置在线形导轨 上，所述工作台上还设置有一个可将所述滑板锁定于某一位置的锁紧装置。
上述技术方案中，所述锁紧装置包括第二滑块，第二滑块部分位于滑槽内， 并且所述第二滑块的底部嵌入滑槽的侧壁上，所述第二滑块位于滑槽内的侧壁杆的一端抵靠在滑板上，另一端抵靠有弹性组件，弹性组件的
另一端被封堵在第二滑块内。
有益效果本实用新型与现有技术相比，具有如下有益效果 本实用新型与内径表配合使用时，测量精度高，组装、测量方便。


图l为内径测量校准台结构示意图。
图2为内径测量校准台的俯视图。
图3图2中I处放大图。
图4为图2所示内径测量校准台左视图。
具体实施方式
以下结合附图与具体实施方式
对本实用新型作进一步详细描述 参见图1 图4，所述内径测量校准台主要由工作台1、以及设置在工作台
l上方的滑槽4，线形导轨7，锁紧装置等构成。
所述工作台l最好采用大理石或与大理石类似变形量很小的材料制成，并 在其上端面平行设置有前、后滑轨8、 8'和一线形导轨7，所述前、后滑轨8、 8'围成一滑槽4，当然也可在工作台l上端面上开出一滑槽4，所述滑槽4的 端部设有一挡块2，滑槽4容置有一滑板3，滑板3可沿着滑槽4移动，滑板3 的一侧边向右翻折，并且翻折角度为90度，形成平行于线形导轨7的加长板31， 所述加长板31的侧壁上安装有第一滑块6，所述第一滑块6嵌置在线形导轨7 上。
所述滑板3的一侧边，后滑轨8'上设置有一锁紧装置5，所述锁紧装置5包括第二滑块50，所述第二滑块50的纵截面为一设有一开口的"口"字，在其
中部设有一内螺纹，并拧入一个螺栓53，底部的开口嵌入后滑轨8'下端面， 所述第二滑块50位于滑槽4的侧壁设有一推杆51，推杆51的一端抵靠在滑板 3上，另一端抵靠有弹性组件，弹性组件的另一端被一螺栓封堵在第二滑块50 内，优选的，所述弹性组件为弹簧52，加工比较方便。
使用时，大致估算出被测工件的内径尺寸，用量块拼接成该尺寸安装在校 准台上，然后旋转螺栓，使第二滑块50将滑板锁紧，之后将内径表9在校准台 上比对调零。零位调整好以后，对被测工件进行直接测量，根据测量出来的值 与量块进行加、减即可得出被测工件的内径尺寸，由于量块的尺寸很标准，偏 差很小，这样即可较为准确的测出被测工件的内径。
权利要求1、一种内径测量校准台，其特征在于，该校准台包括工作台(1)，所述工作台(1)平行设置一滑槽(4)和一线形导轨(7)，所述滑槽(4)的端部设有一挡块(2)，滑槽(4)容置有一滑板(3)，滑板(3)可沿着滑槽(4)移动，所述滑板(3)的一侧边设置有滑块，所述滑块嵌置在线形导轨(7)上，所述工作台(1)上还设置有一个可将所述滑板(3)锁定于某一位置的锁紧装置(5)。
2、 根据权利要求1所述的内径测量校准台，其特征在于，所述锁紧装置(5) 包括第二滑块(50)，第二滑块(50)部分位于滑槽(4)内，并且第二滑块(50) 的底部嵌入滑槽(4)的侧壁上，所述第二滑块(50)位于滑槽(4)内的侧壁 设有一推杆(51)，推杆(51)的一端抵靠在滑板(3)上，另一端抵靠有弹性 组件，弹性组件的另一端被封堵在第二滑块(50)内。
专利摘要本实用新型公开了一种内径测量校准台，该校准台包括工作台，所述工作台平行设置一滑槽和一线形导轨，所述滑槽的端部设有一挡块，滑槽容置有一滑板，滑板可沿着滑槽移动，所述滑板的一侧边设置有第一滑块，所述第一滑块嵌置在线形导轨上，所述工作台上还设置有一个可将所述滑板锁定于某一位置的锁紧装置，本实用新型与内径表配合使用时，测量精度高，组装、测量方便。
文档编号G01B5/08GK201359483SQ20092011448
公开日2009年12月9日 申请日期2009年2月26日 优先权日2009年2月26日
发明者宋栋梁 申请人:宁波优耐特模具有限公司