专利名称：多回路测量系统的制作方法
技术领域：
本实用新型有关于一种测量系统，且特别是有关于一种多回路测量系统。
背景技术：
在产品的自动测量过程中，通常需要测量产品主机板上多条回路的电气特性。目 前，通常多个数字电表分别利用自动检查盒一一对应地连接于这些回路。在测量过程中，自 动检查盒会根据测量信号导通对应的数字电表与对应的回路。然而，在上述测量过程中，当 一个数字电表进行测量时，其它数字电表均处于闲置状态。如此，降低了数字电表的工作效率。

实用新型内容本实用新型提供一种多回路测量系统，以解决上述问题。为解决所述技术问题，本实用新型的技术方案是本实用新型提供一种多回路测量系统，用于测量待测物件的多条回路。多回路测 量系统包括测量控制装置、自动检查盒、测量装置以及切换装置。测量控制装置产生测量信 号以选择这些回路的其中之一作为待测回路。自动检查盒分别耦接于待测物件与测量控制 装置，自动检查盒接收测量信号并根据测量信号耦接于待测回路。切换装置分别耦接于测 量控制装置、自动检查盒以及测量装置。切换装置接收测量信号并根据测量信号电性连接 测量装置与自动检查盒，以使测量装置测量待测回路。与现有技术相比，本实用新型的有益效果可以是根据本实用新型提供的多回路测量系统，测量控制装置会产生测量信号以选择待 测物件的多个回路的其中之一作为待测回路，且自动检查盒与切换装置会同时接收测量控 制装置产生的测量信号。自动检查盒会根据测量信号耦接待测回路，且切换装置会根据测 量信号电性连接测量装置与自动检查盒，以使测量装置可测量对应的待测回路。由此，本实 用新型提供的多回路测量系统仅利用一个测量装置即可测量多条回路，从而提高测量装置 的工作效率。为让本实用新型的所述和其它目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实 施例，并配合附图，作详细说明如下。

图1为本实用新型的一较佳实施例的多回路测量系统的方块示意图。图2为本实用新型的一较佳实施例的多回路测量系统的切换装置的电路图，其 中，图2由图2A和图2B拼接而成，连接点如图所示。
具体实施方式
图1为本实用新型的一较佳实施例的多回路测量系统的方块示意图。请参考图 1。
3[0013]本实施例所提供的多回路测量系统1用于测量待测物件2 (例如，电子装置)的多 条回路(图未示)。在本实施例中，以多回路测量系统1测量待测物件2的两条回路为例进 行详细说明。然而，本实用新型并不限定于此。在实际应用中，多回路测量系统1也可根据 需要用于测量其它数目的回路(例如，三条回路)。在本实施例中，多回路测量系统1包括测量控制装置10、自动检查盒12、测量装置 14以及切换装置16。测量控制装置10分别耦接于待测物件2、自动检查盒12、切换装置16 以及测量装置14。自动检查盒12分别耦接于待测物件2、测量控制装置10以及切换装置 16。切换装置16分别耦接于测量控制装置10、自动检查盒12以及测量装置14。在本实施例中，测量装置14可为一数字电表。然而，本实用新型并不限定于此。此 外，在本实施例中，测量装置14用于测量待测物件2的回路的电流。其中，测量装置14的 电压端与自动检查盒12的电压端相互连接以确保电压一致。然而，本实用新型对此不作任 何限定。在本实施例中，测量控制装置10可为一电脑。测量控制装置10根据待测物件2中 回路的测量状态产生一测量信号Si以选择回路的其中之一作为待测回路并将测量信号Sl 同时提供给自动检查盒12与切换装置16。具体而言，测量控制装置10中插设有PIO卡，且 测量控制装置10内储存有测量程序。测量程控PIO卡的输出。在此，PIO卡的输出即为测 量信号Si，且测量信号Sl为16位的数字信号。然而，本实用新型并不限定于此。此外，在本实施例中，测量控制装置10包括显示元件100 (例如，显示器)。显示元 件100耦接于测量装置14，用于显示测量装置14的测量结果。然而，本实用新型并不限定 于此。在实际应用中，测量装置14的测量结果也可通过测量装置14直接显示。在本实施例中，自动检查盒12包括多条切换回路(图未示)，分别耦接于待测物件 2中的回路。切换回路与待测物件2中的回路可一一对应。当自动检查盒12接收测量信 号Sl后，自动检查盒12会根据测量信号Sl电性连接一条切换回路与待测物件2中对应的 待测回路。具体而言，在本实施例中，由于待测物件2具有两条回路(例如，包括第一回路 与第二回路)，因此自动检查盒12可包括第一切换回路与第二切换回路。当自动检查盒12 接收测量信号Sl后，自动检查盒12会根据测量信号Sl电性连接待测物件2中一条当前需 要测量的回路。例如，当待测物件2的第一回路为待测回路时，自动检查盒12的第一切换 回路与待测物件2的第一回路会成电性导通状态。图2为本实用新型的一较佳实施例的多回路测量系统1的切换装置16的电路图。 请参考图1与图2。以下详细说明切换装置16的结构及操作原理。在本实施例中，如图2所示，切换装置16包括微处理器160 (例如，芯片AT89S52) 以及开关单元162。其中，微处理器160耦接于测量控制装置10以接收测量信号Si。开关 单元162分别耦接于微处理器160、自动检查盒12以及测量装置14。 此外，在本实施例中，切换装置16还具有多个连接器Pl P7。其中，连接器Pl P4分别耦接于测量控制装置10与微处理器160，并自测量控制装置10接收测量信号Si。 连接器P5耦接于开关单元162与测量装置14。连接器P6，P7分别耦接于开关单元162与 自动检查盒12。然而，本实用新型并不限定连接器的数目。 在本实施例中，连接器Pl P4接收测量信号Sl后，测量信号Sl经过光电隔离电 路后输入微处理器160。微处理器160会根据测量信号Sl产生切换信号S2。在此，切换信号S2自微处理器160的接脚22 M输出。换言之，切换信号S2为3位的数字信号。然 而，本实用新型并不限定于此。在本实施例中，开关单元162接收切换信号S2并根据切换信号S2电性连接测量 装置14与自动检查盒12。具体而言，开关单元162包括第一开关元件163与两个第二开关 元件164，165。第一开关元件163分别耦接于微处理器160、测量装置14以及自动检查盒 12。第二开关元件164，165分别耦接于微处理器160与自动检查盒12。然而，本实用新型 并不限定于此。在其它实施例中，可根据待测回路的数目，设置其它数目的第二开关元件。在本实施例中，第一开关元件163包括金属氧化物半导体场效应晶体管 (MOSFET) 1631以及两个继电器1632，1633。然而，本实用新型并不限定继电器的数目。此 外，第一开关元件163的金属氧化物半导体场效应晶体管1631的栅极(G极)耦接于微处 理器160的接脚22，其源极(S极)接地，且其漏极(D极)分别耦接于继电器1632、1633。在本实施例中，第二开关元件164包括金属氧化物半导体场效应晶体管1641以及 继电器1642。第二开关元件164的金属氧化物半导体场效应晶体管1641的栅极(G极)耦 接于微处理器160的接脚23，其源极(S极)接地，且其漏极(D极)耦接于继电器1642。在本实施例中，第二开关元件165包括金属氧化物半导体场效应晶体管1651以及 继电器1652。第二开关元件165的金属氧化物半导体场效应晶体管1651的栅极(G极)耦 接于微处理器160的接脚M，其源极(S极)接地，且其漏极(D极)耦接于继电器1652。以下详细说明多回路测量系统1的切换装置16的操作原理。具体而言，在本实施例中，当微处理器160的接脚22的输出为低准位(例如，0V)， 且接脚23，M的输出均为高准位(例如，5V)时，金属氧化物半导体场效应晶体管1631截止 使得继电器1632,1633失电，金属氧化物半导体场效应晶体管1641导通使得继电器1642 得电，且金属氧化物半导体场效应晶体管1651导通使得继电器1652得电。此时，第一开关 元件163的继电器1631，1632可分别对应地耦接测量装置14的两连接端与自动检查盒12 的第一切换回路的两连接端(即，测量装置14的一连接端耦接于第一切换回路的一连接 端，测量装置14的另一连接端耦接于第一切换回路的另一连接端)，第二开关元件164的继 电器1642可耦接自动检查盒12的第一切换回路的两连接端，且第二开关元件165的继电 器1652可断开自动检查盒12的第二切换回路的两连接端。此时，由于测量装置14的两连 接端与自动检查盒12的第一切换回路的两连接端分别对应耦接，且第一切换回路的两连 接端相互耦接，因此，开关单元162可电性连接测量装置14与自动检查盒12的第一切换回 路。此外，在本实施例中，当切换装置16接收测量信号Sl并根据测量信号Sl电性连 接测量装置14与自动检查盒12的第一切换回路时，自动检查盒12会接收测量信号Sl并 根据测量信号Sl利用第一切换回路电性连接待测物件2的第一回路。由此，测量装置14 可测量待测物件2的第一回路。在本实施例中，当微处理器160的接脚22的输出为高准位(例如，5V)，接脚23， 24的输出均为低准位(例如，0V)时，金属氧化物半导体场效应晶体管1631导通使得继电 器1632、1633得电，金属氧化物半导体场效应晶体管1641截止使得继电器1642失电，且金 属氧化物半导体场效应晶体管1651截止使得继电器1652失电。此时，继电器1632、1633 可分别对应地耦接测量装置14的两连接端与自动检查盒12的第二切换回路的两连接端，继电器1642可断开自动检查盒12的第一切换回路的两连接端，且继电器1652可耦接自动 检查盒12的第二切换回路的两连接端。此时，由于测量装置14的两连接端与自动检查盒 12的第二切换回路的两连接端分别对应耦接，且第二切换回路的两连接端相互耦接，因此， 开关单元162可电性连接测量装置14与自动检查盒12的第二切换回路。此外，在本实施例中，当切换装置16接收测量信号Sl并根据测量信号Sl电性连 接测量装置14与自动检查盒12的第二切换回路时，自动检查盒12会接收测量信号Sl并 根据测量信号Sl利用第二切换回路电性连接待测物件2的第二回路。由此，测量装置14 可测量待测物件2的第二回路。综上所述，根据本实用新型较佳实施例提供的多回路测量系统，测量控制装置会 产生测量信号以选择待测物件的多个回路的其中之一作为待测回路，且自动检查盒与切换 装置会同时接收测量控制装置产生的测量信号。自动检查盒会根据测量信号耦接待测回 路，且切换装置会根据测量信号电性连接测量装置与自动检查盒，以使测量装置可测量对 应的待测回路。由此，本实用新型较佳实施例提供的多回路测量系统仅利用一个测量装置 即可测量多条回路，从而提高测量装置的工作效率。虽然本实用新型已以较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本实用新型，任何 熟习此技艺者，在不脱离本实用新型的精神和范围内，当可作些许的更动与润饰，因此本实 用新型的保护范围当视权利要求书所界定者为准。
权利要求1.一种多回路测量系统，用于测量待测物件的多条回路，其特征是，所述多回路测量系 统包括测量控制装置，所述测量控制装置产生测量信号以选择所述这些回路的其中之一作为 待测回路；自动检查盒，其分别耦接于所述待测物件与所述测量控制装置，所述自动检查盒接收 所述测量信号并根据所述测量信号耦接于所述待测回路；测量装置；以及切换装置，其分别耦接于所述测量控制装置、所述自动检查盒以及所述测量装置，所述 切换装置接收所述测量信号并根据所述测量信号电性连接所述测量装置与所述自动检查 盒，以使所述测量装置测量所述待测回路。
2.根据权利要求1所述的多回路测量系统，其特征是，所述切换装置包括微处理器与 开关单元，所述微处理器耦接于所述测量控制装置以接收所述测量信号，并根据所述测量 信号产生切换信号，所述开关单元分别耦接于所述微处理器、所述自动检查盒以及所述测 量装置以接收所述切换信号，并根据所述切换信号电性连接所述测量装置与所述自动检查盒。
3.根据权利要求2所述的多回路测量系统，其特征是，所述开关单元包括第一开关元 件与多个第二开关元件，所述第一开关元件分别耦接于所述微处理器、所述测量装置以及 所述自动检查盒，所述这些第二开关元件分别耦接于所述微处理器与所述自动检查盒。
4.根据权利要求3所述的多回路测量系统，其特征是，所述第一开关元件包括金属氧 化物半导体场效应晶体管与至少一个继电器，所述金属氧化物半导体场效应晶体管耦接于 所述微处理器，所述继电器分别耦接于所述金属氧化物半导体场效应晶体管、所述测量装 置以及所述自动检查盒。
5.根据权利要求3所述的多回路测量系统，其特征是，每一个所述这些第二开关元件 分别包括金属氧化物半导体场效应晶体管与继电器，所述金属氧化物半导体场效应晶体管 耦接于所述微处理器，所述继电器分别耦接于所述金属氧化物半导体场效应晶体管与所述 自动检查盒。
6.根据权利要求1所述的多回路测量系统，其特征是，所述测量装置为数字电表。
7.根据权利要求1所述的多回路测量系统，其特征是，所述测量控制装置包括显示元 件，其耦接于所述测量装置。
专利摘要本实用新型提供一种多回路测量系统，用于测量待测物件的多条回路。多回路测量系统包括测量控制装置、自动检查盒、测量装置以及切换装置。测量控制装置产生测量信号以选择这些回路的其中之一作为待测回路。自动检查盒分别耦接于待测物件与测量控制装置，自动检查盒接收测量信号并根据测量信号耦接于待测回路。切换装置分别耦接于测量控制装置、自动检查盒以及测量装置。切换装置接收测量信号并根据测量信号电性连接测量装置与自动检查盒，以使测量装置测量待测回路。本实用新型提供的多回路测量系统仅利用一个测量装置即可测量多条回路，从而提高测量装置的工作效率。
文档编号G01R19/25GK201845055SQ20102022403
公开日2011年5月25日 申请日期2010年6月11日 优先权日2010年6月11日
发明者张 林, 文志宇, 杨宇, 王立成, 许博文 申请人:名硕电脑(苏州)有限公司, 永硕联合国际股份有限公司