专利名称：探针构造的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种探针的构造设计，尤指一种可重复插接且节省成本的探针构造。
如图1至图3所示，一般测试用治具包括一个探针构造及一个设有若干测试孔31的密度板3，其中探针构造又包括探针1、探针套管2及导线4，该探针1内设压缩弹簧而使其探针头11便于测试；探针套管2的一端设有一斜边21；导线4则剖开露出一段裸线41。
测试时，先将探针套管2从测试孔31一端插入，再施力压锤斜边21使探针套管2可被撑抵于密度板3，接着将探针1插入探针套管2内，最后通过绕接、焊接或夹压的方式，使裸线41结合于相对斜边21的探针套管另端即可进行测试。
由于探针1及探针套管2多已不易拔出，欲强力拔出时，则可能造成探针1、探针套管2及测试孔31的刮伤，因此厂商在测试完一定数量的PCB(例如2000片)之后，便直接丢弃整组测试治具。
另外，还可直接将裸线41剪断，再费时、费力去剖开导线4，以一段新的裸线41重新连接在探针套管2上。
可见，现有探针构造具有以下缺点1、探针套管及探针多已不易拔出供下次使用，欲拔出时亦可能刮伤探针、探针套管及测试孔；2、由于不易拔出，因而造成厂商将整组测试治具一起丢弃；3、如果剪断裸线，则需要再以一新裸线重新结合于探针套管上；如前所述，因而浪费大量时间、人力及材料。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是一种探针构造，至少包括探针、探针套管及导线，所述探针套管用于供所述探针套入，其特征在于，还包括一个插接件，所述接插件的一端与所述导线的裸线连接，并套有一个加热固定的热缩套管，所述插接件与探针构造接合而相互导通，可重复插接使用。
本实用新型的探针构造通过使用公/母插接件，不需拆装探针构造，仍可重复使用同一测试治具、节省人力、时间及材料成本，用于电路密度较高的印刷电路板的测试过程，更为便利简易。


下面将结合附图及实施例对本实用新型作进一步说明，附图中图1是现有技术中的一种探针构造的示意图；图2是现有技术中的另一种探针构造的示意图；图3是现有技术中的又一种探针构造的示意图；图4是本实用新型实施例一的构成示意图；图5是本实用新型实施例一的横剖示意图；图6是本实用新型实施例二的构成示意图；图7是本实用新型实施例二的横剖示意图；图8是本实用新型采用公插接件时的一种构成示意图；图9是本实用新型采用公插接件时的另一种构成示意图；图10是本实用新型采用公插接件时的第三种构成示意图；图11是本实用新型采用公插接件是时的第四种构成示意图；图12是本实用新型采用母插接件时的一种构成示意图；图13是本实用新型采用母插接件时的另一种构成示意图。
在上述各附图的各附图标记中1是探针，11是探针头，2是探针套管，21是斜边，3是密度板，31是测试孔，4是导线，41是裸线，5是热缩套管，6是导棒，7是导管，8是叉形导棒。
实施例一如图4和5图所示，这种测试用治具包括探针构造及一块设有若干测试孔3 1的密度板3，其中探针构造包括探针1、探针套管2、导线4、热缩套管5及导棒6。探针套管2的其中一端设有一个斜边21，是一个上宽下窄的空心管体，可供导棒6从其下方插入；导线4则剖开露出一段裸线41；热缩套管5由可防止短路的绝缘材料制成。
测试时，先将探针套管2从测试孔31上方插入，再施力压锤其斜边21使探针套管2可被撑抵于密度板3，接着将探针1插入探针套管2内。之后将裸线41焊接于导棒6一端，再套入热缩套管5并加热固定而形成套筒状，然后将其插入探针套管2另一端即可进行测试。
由于导棒6可重复插接，因此不需拔出探针1及探针套管2，亦不会刮伤探针1、探针套管2及测试孔31，且不需丢弃整组测试治具，可留待下次使用，节省大量时间、人力及材料成本。
实施例二如图6和图7所示，这种测试用治具包括探针构造及一块设有若干测试孔31的密度板3，其中探针构造包括探针1、探针套管2、导线4、热缩套管5及导管7。探针套管2的其中一端设有一个斜边21，是一个上宽下窄的实心管体，可供导管7从其下方套入；导线4则剖开露出一段裸线41；热缩套管5由可防止短路的绝缘材料制成。
测试时，先将探针套管2从测试孔31上方插入，再施力压锤其斜边21使探针套管2可被撑抵于密度板3，接着将探针1插入探针套管2内。之后将裸线41绕接于导管7的一端，再套入热缩套管5并加热固定而形成套筒状，然后将其套入探针套管2另端即可进行测试。
与前一实施例的差异在于导线4的结合方式是将焊接改为绕接，探针套管2由被导棒6插入改为以导管7套入，除藉此表示本实用新型的高选择性外，亦显示本实用新型的探针套管2与插接件(即导棒6及导管7)可以公母或母公结合方式来设计。
因此，如图8～13所示，承前所述，本实用新型插接件可以是导棒6或叉形导棒8等公插接件，通过将其插入探针套管2(公结合母)以进行测试；也可以是导管7等母插接件，通过将其套入探针套管2(母结合公)以进行测试，而导线结合方式可以是绕接或焊接等方式。
另外，为更便于测试的进行，密度板的测试孔可全部插满探针构造而毋需再拔出，仅需再将插接件插入欲测试的测试孔，待测试完后，再拔出插接件即可，而不需拔出测试孔的探针构造，可留待下一批PCB测试使用。
因此，本实用新型具有下列优点(1)、可重复插接使用，节省大量时间、人力及材料成本；(2)、可使电路密度较高的印刷电路板的测试过程更为便利简易；(3)、可防止测试治具刮伤。
权利要求1.一种探针构造，至少包括探针、探针套管及导线，所述探针套管用于供所述探针套入，其特征在于，还包括一个插接件，所述接插件的一端与所述导线的裸线连接，并套有一个加热固定的热缩套管，所述插接件与探针构造接合而相互导通，可重复插接使用。
2.根据权利要求1所述的探针构造，其特征在于，所述插接件是一根叉形导棒。
3.根据权利要求1所述的探针构造，其特征在于，所述插接件是一根导管。
4.根据权利要求1所述的探针构造，其特征在于，所述插接件是一根导棒。
5.根据权利要求1所述的探针构造，其特征在于，所述导线绕接在所述插接件上。
6.根据权利要求1所述的探针构造，其特征在于，所述导线焊接在所述插接件上。
7.根据权利要求1所述的探针构造，其特征在于，所述热缩套管由可防止短路的绝缘材料制成。
专利摘要本实用新型涉及一种探针构造，至少包括探针、探针套管及导线，所述探针套管用于供所述探针套入，其特征在于，还包括一个插接件，所述接插件的一端与所述导线的裸线连接，并套有一个加热固定的热缩套管，所述插接件与探针构造接合而相互导通，可重复插接使用。本实用新型的探针构造通过使用公/母插接件，不需拆装探针构造，仍可重复使用同一测试治具、节省人力、时间及材料成本，用于电路密度较高的印刷电路板的测试过程，更为便利简易。
文档编号G01R1/067GK2566273SQ0227244
公开日2003年8月13日 申请日期2002年8月8日 优先权日2002年8月8日
发明者陈淑梅 申请人:陈淑梅