专利名称：电子数显千分尺测微器的制作方法
技术领域：
本实用新型主要涉及一种长度计量器具，尤其涉及长度测量电子千分 尺的测微器。
背景技术：
电子千分尺是由电子数显装置和测微器(包括传感器和机械传动部分)
组成。现有的电子千分尺的测微器如图1,容^1^传感器的动栅28和定栅29 分别固定在动栅座26和定栅座30上，定栅座30固定在螺紋轴套31上，螺 紋轴套31固定在尺架24右端的螺紋孔中，锥端螺钉27穿过动栅座26的螺 钉孔限制在测微螺杆22的V槽中，测微螺杆22转动时带动动栅座26转动， 调节套25可以轴向移动调整动栅座26的位置使动4册座26和定栅座30紧密 接触。这种结构的缺点是对零件的垂直度要求高，加工难度大，调节套25 和动栅座26的垂直度误差使测微螺杆22转动不灵活，动栅28和定栅29的 间隙随着转动变化，这都会产生测量误差；另一缺点是尺架24右端的内螺 紋孔不易加工，不易与左端的孔同轴。

实用新型内容
本实用新型的目的在于避免现有技术的不足之处而提供一种电子数显 千分尺测微器。以解决零件的垂直度要求高，加工难度大，测微螺杆2移动 不灵活的问题。本实用新型的目的可以通过采用以下技术方案来实现 一种电子数显千 分尺测微器，包括有测微螺杆(2 ),尺架(4 )，固定套(3 )设于尺架(4 ) 左端、调节套(5)设于固定套(3)中，动栅座(6)，动栅(8)，定栅(9)， 定栅座(10 )，螺紋轴套(11),其主要特点是在调节套(5 )与动栅座(6 )
之间设有球面垫圈(14)。
所述电子数显千分尺测微器，调节套(5)的端口设有锥形面，与球面 垫圈(14)的球形面接触；球面垫圈(14)的端面与动栅座(6)紧密接触。
所述电子数显千分尺测微器，螺紋轴套(11)与尺架(4)右端的通孔 配合。
本实用新型的有益效果是测微螺杆移动灵活，零件加工难度低，装配 方便，便于大批量生产。


图1为现有^L术示意图2为本实用新型结构图3为本实用新型应用例主碎见图。
具体实施方式
以下结合实施例对本实用新型的原理和特征进行描述，所举实例只用于 解释本实用新型，并非用于限定本实用新型的范围。
实施例l:见图2, —种电子数显千分尺测微器，包括有测微螺杆2，尺 架4，固定套3设于尺架4左端、调节套5设于固定套3中，动栅座6，动 栅8,定栅9，定栅座IO,螺紋轴套ll，在调节套5与动栅座6之间设有球 面垫圈14。所述调节套5的端口设有锥形面，与球面垫圈14的球形面接触；球面垫圈14的端面与动栅座6紧密接触。所述螺紋轴套11与尺架4右端的 通孔配合。使用胶粘结固定。
装配时，容栅传感器的动栅8和定栅9分别固定在动栅座6和定栅座10 上，定栅座10固定在螺紋轴套11孔中，测微螺杆2上有一个轴向V型槽， 动栅座6套在测微螺杆2的外圓上，锥端螺钉7穿过动栅座6的螺钉孔安装 在测微螺杆2的V槽中，使动栅座6 、动栅8与测微螺杆2同步转动，固定 套3固定在尺架4左端的孔中，调节套5装在固定套3的螺紋孔中，旋转调 节套5可以使其轴向移动调整动栅座6的位置，球面垫圈14浮动安装在调 节套5的锥形孔中，其轴线可自动倾斜，以保证球面垫圈14的端面与动栅 座6紧密接触，当调节套5和动栅座6有垂直度误差时，球面垫圈14可自 动倾斜，保证动栅8和定栅9紧密接触，测微螺杆2转动灵活。螺紋轴套ll 固定在尺架4右端的通孔里，由于尺架4左右两端都是通孔，容易加工，容 易保证同轴度。
应用例见图3, —种电子数显千分尺由电子数显装置和测微器(包括 传感器和机械传动部分)组成。测砧1固定在尺架4的左端，容栅传感器的 动栅8和定栅9分别固定在动栅座6和定栅座10上，定栅座10固定在螺紋 轴套11孔中，测微螺杆2上有一个轴向V型槽，动栅座6套在测微螺杆2的 外圆上，锥端螺钉7穿过动栅座6的螺钉孔安^测微螺杆2的V槽中，使 动栅座6、动栅8与测微螺杆2同步转动，固定套3固定在尺架4大孔的左 端，调节套5装在固定套3的螺紋孔中，旋转调节套5可以使其轴向移动调 整动栅座6的位置，球面垫圈14浮动安装在调节套5的锥形孔中，其轴线 可自动倾斜，以保证球面垫圈14的端面与动栅座6紧密接触，当调节套5 和动栅座6有垂直度误差时，球面垫圈14可自动倾斜，保证动栅8和定栅9紧密接触，测;徵螺杆2转动灵活。螺紋轴套ll固定在尺架4右端的通孔里， 刻度套管12安装在螺紋轴套11的外圓上，微分筒13的锥孔与测微螺杆2 的锥面外圓紧密配合，测量时，转动微分筒13，带动测微螺杆2、动栅座6、 动栅8旋转，动栅8和定栅9发生相对转动时，产生电信号，将此信号输入 到电子数显装置15显示出测微螺杆2的位移量。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例，并不用以限制本实用新型，凡 在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均
应包含在本实用新型的保护范围之内。
权利要求1.一种电子数显千分尺测微器，包括有测微螺杆(2)，尺架(4)，固定套(3)设于尺架(4)左端、调节套(5)设于固定套(3)中，动栅座(6)，动栅(8)，定栅(9)，定栅座(10)，螺纹轴套(11)，其特征是在调节套(5)与动栅座(6)之间设有球面垫圈(14)。
2. 如权利要求1所述电子数显千分尺测微器，其特征在于调节套(5 )的端 口设有锥形面，与球面垫圈(14)的球形面接触；球面垫圈(14)的端面 与动栅座(6)紧密接触。
3. 如权利要求1所述电子数显千分尺测微器，其特征在于螺紋轴套(11) 与尺架(4)右端的通孔配合。
专利摘要本实用新型主要涉及一种长度计量器具，尤其涉及长度测量电子千分尺的测微器。一种电子数显千分尺测微器，包括有测微螺杆(2)，尺架(4)，固定套(3)设于尺架(4)左端、调节套(5)设于固定套(3)中，动栅座(6)，动栅(8)，定栅(9)，定栅座(10)，螺纹轴套(11)，其主要特点是在调节套(5)与动栅座(6)之间设有球面垫圈(14)。本实用新型的优点是测微螺杆移动灵活，零件加工难度低，装配方便，便于大批量生产。
文档编号G01B3/18GK201429389SQ20092015906
公开日2010年3月24日 申请日期2009年6月24日 优先权日2009年6月24日
发明者黄晓宾 申请人:苏州麦克龙测量技术有限公司