专利名称：一种比对检测两孔距的检具的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种检具，尤其是一种比对检测两孔距的检具。
背景技术：
目前，工厂在测量同一底板上的两个轴孔孔距时，通常采用三坐标法检测。其缺点在于第一，三坐标检测效率较低且设备昂贵；第二，产品清洁度对三坐标检测的结果影响较大，由于车间灰尘较多，需要在专门的房间进行三坐标检测。

发明内容
本发明意在提供一种检测效率高、成本低廉、可在车间内使用的检具。
本发明的目的可以通过以下措施来达到一种比对检测两孔距的检具，包括底板，所述底板上依次安装有第一轴孔定位装置、线性滑轨和千分表，所述线性滑轨上安装有移动板，所述移动板上设有第二轴孔定位装置和挡块，所述挡块与千分表的表头接触；所述移动板上配有回位弹簧。上述技术方案与现有技术的区别在于第一轴孔定位装置和第二轴孔定位装置可对待测件的第一轴孔和第二轴孔定位，定位过程中第二轴孔定位装置可带动移动板在滑轨上滑动，通过千分表测定移动板上挡块的相对移动量，从而检测出第一轴孔到第二轴孔之间的实际孔距。进一步地，所述第一轴孔定位装置包括第一轴孔芯轴以及与之间隙配合的第一轴孔滑套，第二轴孔定位装置包括第二轴孔芯轴以及与之间隙配合的第二轴孔滑套；所述第一轴孔滑套和第二轴孔滑套均为锥度18'的锥度定位套；通过滑套和芯轴的配合，使得下压待测件时，能对待测件的曲轴孔和凸轮轴孔进行自定心，而滑套为锥度定位套可保证待测件下压在合适的高度。进一步地，所述底板周边设有等高块；在下压待测件的过程中，可保证待测件各部分保持等闻。该检具成本低廉、使用方便、检测效率高，具有较好的实用性。


下面结合附图和具体实施方式
对本发明作进一步详细的说明
图I为本发明一种比对检测两孔距的检具实施例的结构示意 图2为本发明一种比对检测两孔距的检具实施例的结构示意图。
具体实施例方式实施例参照图I、图2，一种比对检测左箱体上曲轴孔到凸轮轴孔间距的检具，包括底板1，底板上从左至右依次安装有曲轴孔定位装置2、线性滑轨8和千分表3。线性滑轨8上安装有移动板4，移动板4通过滑块可在线性滑轨8上滑动，移动板4的板面左端安装有凸轮轴定位装置5，板面右端安装有挡块6，挡块6与千分表3的表头接触，移动板4的右端配有回位弹簧。底板I周边设有等高块7和定位销。所述曲轴定位装置2包括曲轴孔芯轴21以及与之间隙配合的曲轴孔滑套22，曲轴孔滑套22下端连接有弹簧23，曲轴孔芯轴21上端设有限位板24。所述凸轮轴孔定位装置5包括凸轮轴孔芯轴51以及与之间隙配合的凸轮轴孔滑套52，凸轮轴孔滑套52下端连接有弹簧，凸轮轴孔芯轴51上端设有限位板。所述曲轴孔滑套22和凸轮轴孔滑套52均为锥度18'的锥度定位套。使用过程先用三坐标检测两件标准件，并记录实测数据，将标准件装入检具上，将千分表3指针调整与三坐标实测数据一致。待测工件的曲轴孔套入曲轴孔芯轴21，凸轮轴孔装入凸轮轴孔芯轴51，向下压工件时，两孔定位心后，带动移动板4在线性滑轨8上移动，档块6与千分表3的位置改变，千分表3上显示出档块6的相对移动量，在表盘上读出被检测产品的实测数据。 以上所述的仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本领域的技术人员来说，在不脱离本发明结构的前提下，还可以作出若干变形和改进，这些也应该视为本发明的保护范围，这些都不会影响本发明实施的效果和专利的实用性。
权利要求
1.一种比对检测两孔距的检具，包括底板，其特征在于所述底板上依次安装有第一轴孔定位装置、线性滑轨和千分表，所述线性滑轨上安装有移动板，所述移动板上设有第二轴孔定位装置和挡块，所述挡块与千分表的表头接触；所述移动板上配有回位弹簧。
2.根据权利要求I所述的比对检测两孔距的检具，其特征在于所述第一轴孔定位装置包括第一轴孔芯轴以及与之间隙配合的第一轴孔滑套，第二轴孔定位装置包括第二轴孔芯轴以及与之间隙配合的第二轴孔滑套。
3.根据权利要求2所述的比对检测两孔距的检具，其特征在于所述第一轴孔滑套和第二轴孔滑套均为锥度18'的锥度定位套。
4.根据权利要求I所述的比对检测两孔距的检具，其特征在于所述底板周边设有等1 块。
全文摘要
本发明公开了一种比对检测两孔距的检具，包括底板，所述底板上依次安装有第一轴孔定位装置、线性滑轨和千分表，所述线性滑轨上安装有移动板，所述移动板上设有第二轴孔定位装置和挡块，所述挡块与千分表的表头接触；该检具成本低廉、使用方便、检测效率高，具有较好的实用性。
文档编号G01B5/14GK102798328SQ20121027476
公开日2012年11月28日 申请日期2012年8月3日 优先权日2012年8月3日
发明者左麟, 曹彦 申请人:重庆百吉四兴压铸有限公司