专利名称：一种通用数字集成电路测试仪的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种检测仪器，特别是一种通用数字集成电路测试仪。
背景技术：
电力管理系统涉及大量的数字集成电路(即芯片)，在设备管理、维修等均会涉及到设备上的芯片功能是否正常，以便进行更换。检测芯片可送到生产厂家进行，但耗时长、 影响设备正常运行。

发明内容
本发明的目的是提供一种使用方便和检测快捷的一种通用数字集成电路测试仪。 实现本发明目的的技术方案要点是，一种通用数字集成电路测试仪，包括单片机、插座、显示模块和键盘，其特征在于所述单片机的型号为AT89S52，所述插座的型号为DIP20此插座的脚 1、3、5、7、9、11、13、15、17 和 19 分别与 CPU 的 PL 0、P 1. UPl. 2、P1. 3、P 1. 4、P1. 5、 Ρ1· 6、P1. 7、P3. 0 和 P3. 1 引脚相对应，插座的脚 2、4、6、8、10、12、14、16、18 和 20 分别与 CPU 的 VCC, P0. 0、P0. UP0. 2、Ρ0. 3、Ρ0. 4、Ρ0. 5、Ρ0. 6、Ρ0. 7 和 Ρ2. 7 引脚相对应，所述键盘设有 0、1、2、3、4、5、6、7、8和9为数字键，复位键和确定键，CPU的引脚P2. 6分别与数字键7、8、 9的一端连接，此数字键7、8、9的另一端分别与CPU的引脚P2. 2、P2. 1、P2. 0连接，CPU的引脚P2. 5分别与数字键4、5、6的一端连接，上述数字键的另一端分别与CPU的引脚P2. 5、 P2. 4、P2. 3连接，CPU的引脚P2. 4分别与数字键1、2、3的一端连接，此1、2、3数字键的另一端分别与CPU的引脚P2. 2、P2. 1、P2. 0连接，CPU的引脚P2. 3分别与数字键0、复位键R、确定键IN的一端连接，而上述的0键、R键和IN键的另一端分别与CPU的P2. 2、P2. 1和P2. 0 连接；CPU的VCC脚接电源，CPU的外围电路，电阻R3的一端接地，电容C 1的一端与电源连接CPU脚RET分别与上述R3的另一端、Cl的另一端连接；红色指示灯Dl的两端分别与 CPU脚TO和电阻Rl的一端连接，绿色指示灯的两端分别与CPU脚Tl和电阻R2连接，电阻 R1、R2的另一端分别与电源连接；相并联的电容C2、C3的一端和CPU脚GND分别接地，电容 Cl和C2的另一端分别与CPU的引脚X2和Xl连接，Yl的两端分别与电容Cl与CPU的引脚 X2的电路、电容C2与CPU的引脚Xl的电路连接。本发明与现有技术比较具有检测方便快捷的显著优点。


图1是本发明通用数字集成电路测试仪与按键开关连接示意图，图2是插座与测试仪连接示意图，图3是7段数码显示模规示意图。
具体实施例方式结合以上附图对本发明作详细描述，本发明采用型号为AT89S52单片机做为CPU， 用于测试20脚以内的DIP封装的芯片电路功能的好坏，将不同被测芯片的判断子程序先写入上述单片机中，利用本测试即可对这些被测芯片进行测试。本发明所用插座的型号为 DIP20，此插座的脚 1、3、5、7、9、11、13、15、17 和 19 分别与 CPU 的 Pl. 0、Pl. 1、Pl. 2、Pl. 3、 Pl. 4、Ρ1· 5、Ρ1· 6、Ρ1· 7、Ρ3. 0 和 Ρ3· 1 引脚相对应，插座的脚 2、4、6、8、10、12、14、16、18 和 20 分别与 CPU 的 VCC、P0. 0、P0. U P0. 2、P0. 3、P0. 4、P0. 5、P0. 6、P0. 7 和 P2. 7 引脚相对应。测试仪设有键盘，此键盘上设有12键，其中0、1、2、3、4、5、6、7、8和9为数字键，用来向单片机输入被测芯片的型号，R键为复位键，用来单片机复位或更改、清除输入芯片型号，IN键为确定键，当输入被测芯片型号后，按此键即可进行测试，CPU的引脚P2. 6分别与数字键7、8、9的一端连接，此数字键7、8、9的另一端分别与CPU的引脚P2. 2、P2. 1、P2. 0连接，CPU的引脚P2. 5分别与数字键4、5、6的一端连接，上述数字键的另一端分别与CPU的引脚P2. 5、P2. 4、P2. 3连接，CPU的引脚P2. 4分别与数字键1、2、3的一端连接，此1、2、3数字键的另一端分别与CPU的引脚P2. 2、P2. 1、P2. 0连接，CPU的引脚P2. 3分别与数字键0、 复位键R、确定键IN的一端连接，而上述的0键、R键和IN键的另一端分别与CPU的P2. 2、 P2. 1和P2. 0连接；CPU的VCC脚接电源，CPU的外围电路，电阻R3的一端接地，电容Cl的一端与电源连接；CPU脚RET分别与上述R3的另一端、Cl的另一端连接；红色指示灯Dl的两端分别与CPU脚TO和电阻Rl的一端连接，绿色指示灯的两端分别与CPU脚Tl和电阻R2 连接，电阻Rl、R2的另一端分别与电源连接；相并联的电容C2、C3的一端和CPU脚GND分别接地，电容Cl和C2的另一端分别与CPU的引脚X2和Xl连接，Yl的两端分别与电容Cl 与CPU的引脚X2的电路、电容C2与CPU的引脚Xl的电路连接。本发明的操作方法是，首先将插座插CPU的对应孔中，再将被测芯片插入上述插座的对应孔中放下插座手柄使被测芯片连接可靠后，通过键盘将被测芯片的型号输进CPU 后，按确认键IN，进行检测，当绿色指示灯D2亮说明芯片合格，如果红色指示灯Dl亮，则说明芯片不合格，在输入型号时如果输入错误，所输入型号显示在7段数码管显示模块显示， 可按恢复键R，清零后重新输入。
权利要求
1. 一种通用数字集成电路测试仪，包括单片机、插座、显示模块和键盘，其特征在于 所述单片机的型号为々189552，所述插座的型号为01 20此插座的脚1、3、5、7、9、11、13、15、 17 和 19 分别与 CPU 的 Pl. 0、Pl. 1、Pl. 2、P 1. 3、P 1. 4、P 1. 5、Pl. 6、P 1. 7、P3. 0 和 P3. 1 引脚相对应，插座的脚 2、4、6、8、10、12、14、16、18 和 20 分别与 CPU 的 VCC,P0. 0、P0. UP0. 2、 Ρ0. 3、Ρ0. 4、Ρ0. 5、Ρ0. 6、Ρ0. 7 和 Ρ2. 7 引脚相对应，所述键盘设有 0、1、2、3、4、5、6、7、8 和 9 为数字键，复位键和确定键，CPU的引脚P2. 6分别与数字键7、8、9的一端连接，此数字键7、 8、9的另一端分别与CPU的引脚P2. 2、P2. 1、P2. 0连接，CPU的引脚P2. 5分别与数字键4、 5、6的一端连接，上述数字键的另一端分别与CPU的引脚P2. 5、P2. 4、P2. 3连接，CPU的引脚 P2. 4分别与数字键1、2、3的一端连接，此1、2、3数字键的另一端分别与CPU的引脚P2. 2、 P2. 1、P2. 0连接，CPU的引脚P2. 3分别与数字键0、复位键R、确定键IN的一端连接，而上述的0键、R键和IN键的另一端分别与CPU的P2. 2、P2. 1和P2. 0连接；CPU的VCC脚接电源，CPU的外围电路，电阻R3的一端接地，电容Cl的一端与电源连接；CPU脚RET分别与上述R3的另一端、Cl的另一端连接；红色指示灯Dl的两端分别与CPU脚TO和电阻Rl的一端连接，绿色指示灯的两端分别与CPU脚Tl和电阻R2连接，电阻R1、R2的另一端分别与电源连接；相并联的电容C2、C3的一端和CPU脚GND分别接地，电容Cl和C2的另一端分别与CPU的引脚X2和Xl连接，Yl的两端分别与电容Cl与CPU的引脚X2的电路、电容C2与 CPU的引脚Xl的电路连接。
全文摘要
本发明公开了一种通用数字集成电路测试仪，本发明涉及一种检测仪器，本发明的目的是提供一种使用方便和检测快捷的一种通用数字集成电路测试仪。实现本发明目的的技术方案要点是，一种通用数字集成电路测试仪，包括单片机、插座、显示模块和键盘，所述单片机的型号为AT89S52，所述插座的型号为DIP20，所述键盘设有0、1、2、3、4、5、6、7、8和9为数字键，复位键和确定键；CPU的VCC脚接电源。本发明用于测试芯片是否合格。
文档编号G01R31/317GK102478628SQ20101055974
公开日2012年5月30日 申请日期2010年11月21日 优先权日2010年11月21日
发明者侯守峰, 党华, 刘引, 朱二锋, 邬宝寅 申请人:河南省电力公司新乡供电公司