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一种射频泄漏测试方法

时间:2025-05-11    作者: 管理员

专利名称:一种射频泄漏测试方法
技术领域
本发明涉及电子测试与射频泄漏量测试技术领域,是ー种射频泄漏测试方法。
背景技术
近年来,在电磁兼容及通信领域,对于产品的抗电磁干扰性能要求越来越高,由于各类电子产品的电磁干扰辐射频段越来越宽,高频段干扰频率越来越多,这使得一些射频连接机构等相关产品的抗电磁干扰能力要求越来越严格,而决定其空间抗电磁干扰的能力往往取决于其设备腔体自身的对外泄漏量,由于现代电子设备朝向小型化发展,从而使得ー些射频连接器、波导或波导转换开关等射频器件无法准确测试出其自身的射频泄漏量。因此,迫切需要ー种射频泄漏测试方法验证ー些射频连接器、波导或波导转换开关等射频器件的射频泄漏量。

发明内容
本发明的目的是提供ー种射频泄漏测试方法,通过使用接收天线及射频转换装置组合,适用于射频连接器、波导或波导转换开关等射频器件的射频泄漏测试。本发明的技术方案是ー种射频泄漏测试方法,它的设备包括射频转换装置、接收天线、接收仪、信号源、同轴线缆和屏蔽室,其特征是射频转换装置通过同轴线缆与信号源导通,它们设置在屏蔽室外,射频转换装置通过法兰固定在屏蔽室墙体的测试过孔处;接收天线通过同轴线缆与接收仪导通,它们设置在屏蔽室内,接收天线正对屏蔽室墙体的测试过孔,接收天线顶端与测试过孔间的距离为D ;这种射频泄漏测试方法按照如下的步骤进行
步骤1,测直通值;信号源发出信号,经过射频转换装置将入射波沿屏蔽室的测试过孔传入屏蔽室的内部,并由接收天线接收,在接收仪处得到直通值;
步骤2,测实际值;将被测器件设置在屏蔽室内的测试过孔处,被测器件与屏蔽室墙体的接触面之间加装屏蔽衬垫;设置好被测器件后,信号源发出信号,经过射频转换装置将入射波沿屏蔽室的测试过孔传入屏蔽室的内部,入射波通过被测器件后,由接收天线接收,在接收仪处得到实际值;
步骤3,计算射频泄漏量;用步骤I得到的直通值减去步骤2得到的实际值,计算得出射频泄漏量。所述的射频转换装置是波导同轴转换装置、双向射频连接器或双向金属屏蔽电连接器,其中部设置有金属法兰盘,通过螺丝与屏蔽室的外墙体固定,金属法兰盘与屏蔽室的外墙体之间加装导电衬垫。所述的接收天线为环形磁场测试天线、半波振子天线或微波喇叭天线,其接收测试频段为9KHz至40GHz。所述的接收仪是接收机或频谱仪。所述的信号源是函数信号发生器、调制信号发生器或宽频信号源。
所述的同轴线缆是能够满足9KHz至40GHz测试的同轴线缆。所述的屏蔽室是电磁屏蔽室、屏蔽暗室或半电波暗室。所述的接收天线顶端与测试过孔间的距离D小于等于30厘米。本发明的特点是通过射频转换装置、屏蔽室的隔离、接收仪可有效测试出被测器件的射频泄漏量,由于采用了直通值(无被测器件时接收仪接收到的值)减去实际接收值的测试方法,使得测试最終結果精度高、误差小。


下面将结合实施例对本发明作进ー步的说明。图I是无被测器件时,射频泄漏测试的结构示意图。
图2是有被测器件时,射频泄漏测试的结构示意图。图中1、射频转换装置;2、接收天线;3、接收仪;4、信号源;5、同轴线缆;6、屏蔽室;7、被测器件;D、接收天线顶部与测试过孔的距离。
具体实施例方式ー种射频泄漏测试方法,它使用的设备包括射频转换装置I、接收天线2、接收仪3、信号源4、同轴线缆5和屏蔽室6。如图I所示,射频转换装置I通过同轴线缆5与信号源4导通,它们设置在屏蔽室6外。射频转换装置I通过固定在屏蔽室6墙体的测试过孔处,其中部设置有金属法兰盘,通过螺丝与屏蔽室6的外墙体固定,金属法兰盘与屏蔽室6的外墙体之间加装导电衬垫。射频转换装置I是波导同轴转换装置、双向射频连接器或双向金属屏蔽电连接器。信号源4是函数信号发生器、调制信号发生器或宽频信号源。接收天线2通过同轴线缆5与接收仪3导通,它们设置在屏蔽室6内。接收天线2正对屏蔽室6墙体的测试过孔,接收天线2顶端与测试过孔间的距离为D,且D小于等于30cmo接收天线2为环形磁场测试天线、半波振子天线或微波喇叭天线,其接收测试频段为 9KHz 至 40GHz。接收仪3是接收机或频谱仪。装置中连接各部分的同轴线缆5是能够满足9KHz至40GHz测试的同轴线缆。屏蔽室6是电磁屏蔽室、屏蔽暗室或半电波暗室,其目的是防止入射信号直接对接收仪3和接收天线2进行干扰,进而影响测试的真实性而采用的ー种隔离环境。当射频转换装置I、发射天线2、接收仪3、信号源4、同轴线缆5和屏蔽室6按照上述的方法设置完毕后,可以进行射频泄漏的测试。这种射频泄漏测试方法按照如下的步骤进行
步骤1,测直通值;信号源4发出信号,经过射频转换装置I将入射波沿屏蔽室6的测试过孔传入屏蔽室6的内部,并由接收天线2接收,在接收仪3处得到直通值,即在没有被测器件7时,接收仪3处得到的数值并记录
步骤2,测实际值;如图2所示,将被测器件7设置在屏蔽室6内的测试过孔处,被测器件7与屏蔽室6墙体的接触面之间加装屏蔽衬垫;设置好被测器件7后,信号源4发出信号,经过射频转换装置I将入射波沿屏蔽室6的测试过孔传入屏蔽室6的内部,入射波通过被测器件7后,由接收天线2接收,在接收仪3处得到实际值并记录;
步骤3,计算射频泄漏量;用步骤I得到的直通值减去步骤2得到的实际值,所得结果为被测器件7的射频泄漏量。这种采用直通值(无被测器件时接收仪接收到的值)减去实际接收值的测试方法,使得测试最終結果精度高、误差小。本实施例没有详细叙述的部件和结构属本行业的公知部件和常用结构或常用手·段,这里不一一叙述。
权利要求
1.一种射频泄漏测试方法,它的设备包括射频转换装置(I)、接收天线(2)、接收仪(3)、信号源(4)、同轴线缆(5)和屏蔽室(6),其特征是射频转换装置(I)通过同轴线缆(5)与信号源(4)导通,它们设置在屏蔽室(6)外,射频转换装置(I)通过法兰固定在屏蔽室(6)墙体的测试过孔处;接收天线(2)通过同轴线缆(5)与接收仪(3)导通,它们设置在屏蔽室(6)内,接收天线(2)正对 屏蔽室(6)墙体的测试过孔,接收天线(2)顶端与测试过孔间的距离为D ;这种射频泄漏测试方法按照如下的步骤进行步骤1,测直通值;信号源(4)发出信号,经过射频转换装置(I)将入射波沿屏蔽室(6)的测试过孔传入屏蔽室(6)的内部,并由接收天线(2)接收,在接收仪(3)处得到直通值; 步骤2,测实际值;将被测器件(7)设置在屏蔽室(6)内的测试过孔处,被测器件(7)与屏蔽室(6)墙体的接触面之间加装屏蔽衬垫;设置好被测器件(7)后,信号源(4)发出信号,经过射频转换装置(I)将入射波沿屏蔽室(6)的测试过孔传入屏蔽室(6)的内部,入射波通过被测器件(7)后,由接收天线(2)接收,在接收仪(3)处得到实际值; 步骤3,计算射频泄漏量;用步骤I得到的直通值减去步骤2得到的实际值,计算得出射频泄漏量。
2.根据权利要求I中所述的一种射频泄漏测试方法,其特征是所述的射频转换装置(I)是波导同轴转换装置、双向射频连接器或双向金属屏蔽电连接器,其中部设置有金属法兰盘,通过螺丝与屏蔽室(6)的外墙体固定,金属法兰盘与屏蔽室(6)的外墙体之间加装导电衬垫。
3.根据权利要求I中所述的一种射频泄漏测试方法,其特征是所述的接收天线(2)为环形磁场测试天线、半波振子天线或微波喇叭天线,其接收测试频段为9KHz至40GHz。
4.根据权利要求I中所述的一种射频泄漏测试方法,其特征是所述的接收仪(3)是接收机或频谱仪。
5.根据权利要求I中所述的一种射频泄漏测试方法,其特征是所述的信号源(4)是函数信号发生器、调制信号发生器或宽频信号源。
6.根据权利要求I中所述的一种射频泄漏测试方法,其特征是所述的同轴线缆(5)是能够满足9KHz至40GHz测试的同轴线缆。
7.根据权利要求I中所述的一种射频泄漏测试方法,其特征是所述的屏蔽室(6)是电磁屏蔽室、屏蔽暗室或半电波暗室。
8.根据权利要求I中所述的一种射频泄漏测试方法,其特征是所述的接收天线(2)顶端与测试过孔间的距离D小于等于30厘米。
全文摘要
本发明涉及电子测试与射频泄漏量测试技术领域,是一种射频泄漏测试方法。它的设备包括射频转换装置、接收天线、接收仪、信号源、同轴线缆和屏蔽室,其特征是射频转换装置通过同轴线缆与信号源导通,它们设置在屏蔽室外,射频转换装置通过法兰固定在屏蔽室墙体的测试过孔处;接收天线通过同轴线缆与接收仪导通,它们设置在屏蔽室内,接收天线正对屏蔽室墙体的测试过孔,接收天线顶端与测试过孔间的距离为D;并按照测直通值、测实际值、计算射频泄漏量三个步骤进行射频泄漏的测试。这种射频泄漏测试方法采用了直通值减去实际接收值的测试方法,使得测试最终结果精度高、误差小。
文档编号G01R29/08GK102955085SQ20121041262
公开日2013年3月6日 申请日期2012年10月25日 优先权日2012年10月25日
发明者宋博 申请人:西安开容电子技术有限责任公司

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