专利名称：一种电路测试中可视化选取待测器件的方法
技术领域：
本发明涉及一种可视化选取待测器件的方法，特别是通过可视化的方法选取电路测试中待测器件的方法。
背景技术：
电路板的测试分为两大类一种黑盒测试，基于整个电路板的输入输出进行测试；另一种白盒测试，针对电路板上的器件和线路利用硬件探针测试。在白盒测试中就需要选择器件进行测试。现有电路板测试过程对待测器件的选取，只是通过下拉菜单，或者在查阅元器件库和设计文档之后，手工填写待测器件的相关信息，一方面，对于待测器件的选择不够方便直观；另一方面，对测试人员的要求较高，测试人员要能够看懂元器件库和设计文档，也即是测试人员需具备一定的硬件专业知识，可见现有的方法过于依赖电路测试的专 业知识和测试经验。

发明内容
本发明是为避免上述现有技术所存在的不足之处，提供一种电路测试中可视化选取待测器件的方法，以简化电路测试过程。本发明解决技术问题采用如下技术方案本发明电路板测试中可视化选取待测器件的方法的特点是针对外轮廓是由横向边线和纵向边线构成的矩形电路板，设定电路板上待测器件是以待测器件的器件封装中心为几何中心的矩形轮廓，并且所述待测器件的矩形轮廓中横向与纵向两条边线分别与矩形电路板中横向边线及纵向边线相互平行，所述方法按如下步骤进行a、在电路板测试系统的操作平台上，根据电路板的图号导入所述电路板的电子图片和模板文件、载入包含有电路板上所有器件的器件明细表，并载入元器件库；所述模板文件中包含有作为电路板上每个器件唯一标识的器件位号、表征每个器件封装形式的封装代号、每个器件的封装中心点在电路板坐标系中的坐标位置；所述电路板坐标系是指以电路板的一个角为坐标原点0，以电路板上过坐标原点O的两条相互垂直的邻边分别为X轴和Y轴建立的电路板平面坐标系；所述器件明细表包括器件位号和器件型号；所述元器件库包含所述器件明细表中所有器件的器件型号和器件外形尺寸；b、依据所述电路板上的器件A的器件位号，查阅所述电路板的模板文件，获得器件A的封装中心点在所述电路板坐标系中的坐标位置A (X，y)，依据所述电路板的器件明细表获得器件A的器件型号，依据器件A的器件型号查阅元器件库获得器件A的器件外形尺寸；根据器件A的封装中心点坐标位置A(x，y)和器件外形尺寸计算得出器件A左上角和右下角在所述电路板坐标系中的坐标位置分别为左上角坐SA1Oc1, Y1)和右下角坐标A2 (x2，I2);针对由所述左上角坐SA1(X1W1)和右下角坐标A2(x2，y2)所界定的器件A在电路板坐标系中的矩形坐标区域，根据所述电路板与电路板的电子图片的大小比例关系，换算得出器件A在所述电路板的电子图片坐标系中左上角和右下角的坐标位置分别为左上角坐标A1, (x/，y/ )和右下角坐标A2’(x2’，y2’)，以所述左上角坐标A/ (x/, y/ )和右下角坐标A2’(x2’，y2’)界定所述器件A在电路板的电子图片坐标系中的矩形坐标区域；C、按照步骤b同样的方式，逐个计算所述电路板上的所有器件在所述电路板的电子图片坐标系中的矩形坐标区域，生成对应所述电路板的器件位置信息表，所述器件位置信息表包含器件位号、器件型号、器件在电路板中的矩形坐标区域和器件在电子图片中的矩形坐标区域；d、针对用户对电子图片的点击位置，通过查阅器件位置信息表，获得点击位置处器件的位号和型号。与已有技术相比，本发明有益效果体现在 I、本发明提供的可视化的方法使测试人员通过对待测电路板对应的电子图片进行简单的操作，即可实现对待测器件的选取，既方便直观，又降低了电路测试过程中对测试专业知识和测试经验的依赖；2、本发明仅需要操作电子图片，就可以实现对待测器件的选取，工作效率和正确性得到提高；方法简单且容易实现。3、本发明仅通过几个表格之间的联系，实现电路板坐标系和电子图片坐标系两个坐标系的对应，继而实现通过操作电子图片实现对待测器件的选取，方法简单易实现。


图I为本发明方法流程图；图2为电路板扫描图；表I为图2所示电路板所对应的模板文件；表2为图2所示电路板所对应的器件明细表；表3为元器件库部分内容；表4为图2电路板所对应的器件位置明细表。
具体实施例方式本实施例是针对外轮廓是由横向边线和纵向边线构成的矩形电路板，设定电路板上待测器件是以待测器件的器件封装中心为几何中心的矩形轮廓，并且待测器件的矩形轮廓中横向与纵向两条边线分别与矩形电路板中横向边线及纵向边线相互平行，本实施例电路测试中可视化选取待测器件的方法是按如下步骤进行I、在电路板测试系统的操作平台上，根据电路板的图号导入电路板的电子图片和模板文件、载入包含有电路板上所有器件的器件明细表，并载入元器件库；模板文件中包含有作为电路板上每个器件唯一标识的器件位号、表征每个器件封装形式的封装代号、每个器件的封装中心点在电路板坐标系中的坐标位置；电路板坐标系是指以电路板的一个角为坐标原点0，以电路板上过坐标原点O的两条相互垂直的邻边分别为X轴和Y轴建立的电路板平面坐标系；器件明细表包括器件位号和器件型号；元器件库包含器件明细表中所有器件的器件型号和器件外形尺寸；2、依据电路板上的器件A的器件位号，查阅电路板的模板文件，获得器件A的封装中心点在电路板坐标系中的坐标位置A(x，y)，依据电路板的器件明细表获得器件A的器件型号，依据器件A的器件型号查阅元器件库获得器件A的器件外形尺寸；根据器件A的封装中心点坐标位置A(x，y)和器件外形尺寸计算得出器件A左上角和右下角在所述电路板坐标系中的坐标位置分别为左上角坐SA1Oc1, Y1)和右下角坐标A2 (x2，y2);针对由左上角坐标Al(Xl，yi)和右下角坐标A2(x2，y2)所界定的器件A在电路板坐标系中的矩形坐标区域，根据电路板与电路板的电子图片的大小比例关系，换算得出器件A在电路板的电子图片坐标系中左上角和右下角的坐标位置分别为左上角坐标A/ (χ/,γ/)和右下角坐标Α2’(χ2’，y2’)，以左上角坐标A/ (x/，y/ )和右下角坐标A2’(x2’，y2’ )界定器件A在电路板的电子图片坐标系中的矩形坐标区域；3、按照步骤2同样的方式，逐个计算电路板上的所有器件在电路板的电子图片坐 标系中的矩形坐标区域，生成对应电路板的器件位置信息表，器件位置信息表包含器件位号、器件型号、器件在电路板中的矩形坐标区域和器件在电子图片中的矩形坐标区域；4、针对用户对电子图片的点击位置，通过查阅器件位置信息表，获得点击位置处器件的位号和型号。实施例在scanworks电路测试软件的操作界面上导入比例系数为I的待测电路板的扫描图，如图2所示；器件在电路板中的位置由各器件封装中心相对电路板原点O的坐标位置表示，如表I中的X坐标和Y坐标，在表I中查阅待测器件A的器件位号、X坐标和Y坐标；利用待测器件A在表I中的器件位号，查阅表2，可获得待测器件A的器件型号；利用待测器件A的器件型号，查阅表3，可获得待测器件A的外形尺寸；由此，可以获得待测器件A左上角、右下角相对电路板原点O的坐标位置，即待测器件A在电路板上的矩形坐标区域；由于比例系数为1，得到的待测器件A在电路板上的矩形坐标区域也就是待测器件A在扫描图上的矩形坐标区域，对图2上的每个器件都执行以上步骤，即可获得图2电路板的器件位置信息表，如表4。点击扫描图待测器件A所在的矩形区域，拾取点击位置处的窗口坐标，根据扫描图原点在窗口中的坐标计算映射函数，把点击位置的窗口坐标位置映射到扫描图中的矩形坐标位置，查阅表4，获得待测器件A的器件位号和器件型号。这样就精确地完成了通过图像直接获取器件信息的工作，为非专业人员完成电路板的检测提供了方便直观的器件选取方法。表I
器件位号封装X坐标Y坐标
~ClCapacitor-3〈smdl812>28.60020. 500
~~C2Capacitor-3〈smdl812>28.60011.800
~HlIRF7380(8S0)12.40023. 300表权利要求
1.一种电路板测试中可视化选取待测器件的方法，其特征是针对外轮廓是由横向边线和纵向边线构成的矩形电路板，设定电路板上待测器件是以待测器件的器件封装中心为几何中心的矩形轮廓，并且所述待测器件的矩形轮廓中横向与纵向两条边线分别与矩形电路板中横向边线及纵向边线相互平行，所述方法按如下步骤进行 a、在电路板测试系统的操作平台上，根据电路板的图号导入所述电路板的电子图片和模板文件、载入包含有电路板上所有器件的器件明细表，并载入元器件库； 所述模板文件中包含有作为电路板上每个器件唯一标识的器件位号、表征每个器件封装形式的封装代号、每个器件的封装中心点在电路板坐标系中的坐标位置；所述电路板坐标系是指以电路板的ー个角为坐标原点O，以电路板上过坐标原点O的两条相互垂直的邻边分别为X轴和Y轴建立的电路板平面坐标系；所述器件明细表包括器件位号和器件型号；所述元器件库包含所述器件明细表中所有器件的器件型号和器件外形尺寸； b、依据所述电路板上的器件A的器件位号，查阅所述电路板的模板文件，获得器件A的封装中心点在所述电路板坐标系中的坐标位置A(x，y)，依据所述电路板的器件明细表获得器件A的器件型号，依据器件A的器件型号查阅元器件库获得器件A的器件外形尺寸；根据器件A的封装中心点坐标位置A(x，y)和器件外形尺寸计算得出器件A左上角和右下角在所述电路板坐标系中的坐标位置分别为左上角坐标ん(ち，Y1)和右下角坐标4(&，y2)；针对由所述左上角坐-A1(Xpy1)和右下角坐·Α2(χ2，72)所界定的器件A在电路板坐标系中的矩形坐标区域，根据所述电路板与电路板的电子图片的大小比例关系，換算得出器件A在所述电路板的电子图片坐标系中左上角和右下角的坐标位置分别为左上角坐标A1 (χ1；Y1)和右下角坐标A2 ’ (x2’，y2，)，以所述左上角坐标A/ (χ/,γ/ )和右下角坐标A2 ’ (χ2，，y2’ )界定所述器件A在电路板的电子图片坐标系中的矩形坐标区域； C、按照步骤b同样的方式，逐个计算所述电路板上的所有器件在所述电路板的电子图片坐标系中的矩形坐标区域，生成对应所述电路板的器件位置信息表，所述器件位置信息表包含器件位号、器件型号、器件在电路板中的矩形坐标区域和器件在电子图片中的矩形坐标区域； d、针对用户对电子图片的点击位置，通过查阅器件位置信息表，获得点击位置处器件的位号和型号。
全文摘要
发明公开了一种电路板测试中可视化选取待测器件的方法，其特征是依据待测器件的器件位号，通过查阅模板文件、器件明细表和元器件库，计算得出待测器件在电路板坐标系中的左上角坐标和右下角坐标；再根据电路板与电子图片的大小比例关系，换算得出待测器件在电子图片坐标系中的左上角坐标和右下角坐标；逐个计算电路板上的所有器件在电子图片坐标系中的左上角坐标和右下角坐标，生成器件位置信息表；依据用户对电子图片的点击位置，查阅器件位置信息表，获得待测器件的位号和型号。本发明方法使电路板测试中待测器件的选取更加直观，操作方便，极大降低了在电路测试过程中对测试专业知识和测试经验的依赖。
文档编号G01R31/28GK102662143SQ20121012272
公开日2012年9月12日 申请日期2012年4月24日 优先权日2012年4月24日
发明者刘晓平, 张静, 李恒, 沈冠町, 路强 申请人:合肥工业大学