专利名称：折射率测量装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种教学实验装置，具体为一种测量透光物体折射率的装置。
背景技术：
目前学校物理课学到光学中有关光的折射内容时，通常利用光在经过不同介质时发生折射的现象来测待测物体的折射率，用来加深同学们对知识的理解，提高学习效率。在测量试验中，通常要用到专业的光源，并且需要跟踪光路测出入射角和出射角后利用公式计算出折射率。这种方法所需器材繁多，跟踪光路难度大，入射角出射角通过手绘与量角器测量，精度低。中国专利ZL200620105920. 0公开的折射率测量仪，其虽然在一定程度上简化了测量步骤，但仍需要两次角度测量，而且其测量盘的最小刻度仅为1°，降低了实验结果的精度。
发明内容针对上述现有技术上的不足，本实用新型提供了一种折射率测量装置。该折射率测量装置通过将出射角的测量改为对长度的测量，提高了测量精度，使测量结果更为精确。本实用新型所采用的技术方案是一种折射率测量装置，包括圆形底座，所述圆形底座周边刻有角度标识，其特征是所述圆形底座的中心点上固定有转轴，一个宽度为d的两端带有指针的长方形薄片通过转轴固定在圆形底座上。所述的折射率测量装置，其特征是在圆形底座的底部过圆心固定有水平定位铁片。本实用新型的有益效果是将精度较低的角度测量换为精度较高的长度测量，提高了测量结果的准确性。

图1为本实用新型的折射率测量装置测试状态示意图。图中，1-圆形底座，2-长方形薄片，3-待测物体，4-转轴，5-定位磁铁块。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型的具体实施方式
做进一步的说明。如图1，有一个圆形底座1，所述圆形底座分为四个象限，每个象限均制有0-90度刻度，并且两个0度刻度的连线与两个90度刻度的连线相垂直。其中两个0度刻度的连线为竖直线，两个90度刻度的连线为水平线。在圆心底座I的底部过圆心固定有水平定位铁片。圆形底座I的中心点固定有转轴4，一个两端固定有指针的宽度为d的长方形薄片2固定在转轴4上，所述长方形薄片2两端指针所指的刻度即为其旋转的角度，待测物体3为一个透明的长方形物体。测量时，将待测物体3置于长方形薄片2上部，并且待测物体3的中心与底座I的中心点即转轴4重合。在待测物体3的两侧放置定位磁铁块5，以使待测物体3保持固定。转动长方形薄片2的同时透过待测物体3可以观察到长方形薄片2的两条长边发生视觉错位。当长方形薄片2的两条长边在视觉上重合，即错位量恰好为长方形薄片的宽度d时，停止转动，此时长方形薄片2上指针所指的度数为入射角i，测量待测物体3的光线入射面与出射面间距离h。通过折射率公式
+Sit2I,将测量出的i，h，d数值带入即可算出待测物体3的折射率。本实用新型的折射率测量装置底座I与长方形薄片2的材质采用金属板如铝合金板或树脂板或木质材料等制作，但长方形薄片2须采用非磁性(弱磁性)材料。在底座I的底部用粘接剂固定一个厚度不超过I毫米的薄铁片。薄铁片的固定位置过底座I的中心，并且与图中所示的两个90度刻度的水平连线相平行。
权利要求1.一种折射率测量装置，包括圆形底座(I)，所述圆形底座(I)周边刻有角度标识，其特征是所述圆形底座(I)的中心点上固定有转轴(4)，一个宽度为d的两端带有指针的长方形薄片(2)通过转轴(4)固定在圆形底座(I)上。
2.根据权利要求1的折射率测量装置，其特征是在圆形底座(I)的底部过圆心固定有水平定位铁片。
专利摘要一种折射率测量装置，包括圆形底座，所述圆形底座边缘刻有环形的角度标识，其特征为所述圆形底座上固定有一个两端带有指针、可绕其圆心O任意转动的长方形薄片。该折射率测量装置通过将出射角的测量改为对长度的测量，提高了测量精度，使测量结果更为精确。
文档编号G01N21/41GK202886280SQ201220541150
公开日2013年4月17日 申请日期2012年10月22日 优先权日2012年10月22日
发明者王勤 申请人:王勤