专利名称：分光光度计的固体样品架的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种用于分光光度计的固体样品架。
背景技术：
光谱内透比是指光通过玻璃内部终止点与起始点之间的光通量之比，即不包含表 面反射损失的内部透射比，而测试原理是同一光源发出的两束光通量相同的单色平行光， 分别垂直入射到表面状态和内部材料特性完全相同而厚度不同的两块样品，所得到的出射 光通量之比就是厚度相当于被测两块样品厚度差的样品的光谱内透比。现在用分光光度计 对这一指标进行测试，而垂直入射就是测试的其中一个关键要素，要求样品架能将样品固 定在光路中且其通光面必须垂直于光路，这样才能尽可能的避免反射光带来的误差。而现 在市面上所有的分光光度计都是针对化学分析使用的，其配备的样品架没有直角垂直面， 很难满足测试光谱内透射比的要求。如图1-图3所示，这是日立分光光度计U-3010标配 的固体样品架，该样品架存在的主要问题是1)样品后靠板2不是标准的直角面，样品很容 易被倾斜放置，即使有样品夹片1的辅助，但是夹紧后的样品也仍然不能确定其通光面与 入射光线垂直；2)底座3与整个样品夹具是用螺钉固定起来的两个部分，安装的时候如果 稍有不慎不仅后靠板2与底面的垂直度不能保证，而且整个样品夹还有可能歪斜地放置在 底座3上，并且一旦螺钉松动，样品的垂直入射摆放就更加不能保证了 ；3)样品夹片1距离 夹具的后靠板2太近，只有11cm，无法测试厚度较大的样品。

实用新型内容本实用新型所要解决的技术问题是提供一种能保证样品的通光面垂直于光路的 分光光度计的固体样品架。本实用新型解决技术问题所采用的技术方案是分光光度计的固体样品架，包括 底座、由后靠板和样品夹片组成的样品夹具，所述样品夹具的后靠板垂直于底座的上平面。本实用新型的有益效果是由于本实用新型的样品架的样品夹具的后靠板垂直于 底座的上平面，底座与样品夹具是一个整体，这样可以很容易将样品摆放在样品通光面与 光路垂直的位置上，不仅给测试带来了方便，同时也确保了样品测试的准确性；由于在底座 上预留了多个可以固定样品夹片1的螺孔，还能够测试比较厚的样品。

图1是现有的分光光度计的样品架的主视图。图2是图1的俯视图。图3是图1的侧视图。图4是本实用新型的分光光度计的样品架的主视图。图5是图4的俯视图。图6是图4的侧视图。[0012]图7是本实用新型测试时的示意图。
具体实施方式
如图4-图7所示，为了能准确地测试光谱的内透射比，不仅要保证样品通光面8 与样品架的底面9垂直，同时要求有一个直角面较好的样品架，以保证样品在测试时通光 面与光路垂直。本实用新型的样品架的底座3与样品夹具是一个整体，样品夹具是由后靠板2和 样品夹片1组成的，样品夹具的后靠板2垂直于样品架的底面9，即底座3的上平面，这样可 以很轻松地将样品靠在后靠板2上，并采用样品夹片1固定样品，只要是加工合格的样品， 都可以与后靠板2紧密贴合，使入射光线7通过样品架的通光孔4后，可以垂直入射到样品 的通光面8上。如果样品加工不合格，是无法与后靠板2紧密贴合的，这样就可以很快检验 出加工不合格的样品，避免了由加工带来的测试误差。另外，为了测试比较厚的样品的内透过率，在 底座3上预留了多个可以固定样品 夹片1的螺孔5，需要时，可以将样品夹片1拆下来，重新安装在后面预留的螺孔5上，这样 就可以测试比较厚的样品。
权利要求分光光度计的固体样品架，包括底座(3)、由后靠板(2)和样品夹片(1)组成的样品夹具，其特征在于所述样品夹具的后靠板(2)垂直于底座(3)的上平面。
2.如权利要求1所述的分光光度计的固体样品架，其特征在于所述底座(3)与样品 夹具是一个整体。
3.如权利要求1或2所述的分光光度计的固体样品架，其特征在于在所述底座(3)上 预留了多个可以固定样品夹片(1)的螺孔(5)。
专利摘要本实用新型提供一种能保证样品的通光面垂直于光路的分光光度计的固体样品架。分光光度计的固体样品架，包括底座、由后靠板和样品夹片组成的样品夹具，所述样品夹具的后靠板垂直于底座的上平面。由于本实用新型的样品架的样品夹具的后靠板垂直于底座的上平面，底座与样品夹具是一个整体，这样可以很容易将样品摆放在样品通光面与光路垂直的位置上，不仅给测试带来了方便，同时也确保了样品测试的准确性；由于在底座上预留了多个可以固定样品夹片1的螺孔，还能够测试比较厚的样品。
文档编号G01N21/01GK201740723SQ201020293270
公开日2011年2月9日 申请日期2010年8月16日 优先权日2010年8月16日
发明者刘珍, 吴志强, 岑薇, 廖林, 胡熔, 裴春艳 申请人:成都光明光电股份有限公司