专利名称：Led灯同线性测试治具的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种测试治具，特别涉及一种LED灯同线性测试治具。
背景技术：
目前大家公知的LED灯同线性测试采用的测试方法是用三次元测试仪，用三次元测量焊接好后每个LED灯外形与外形之间的偏差值，如果测量到某一颗LED灯的外形与其它LED灯外形的偏差值不在公差范围之内，则判断为此颗LED灯焊接的位置不在同一直线上。测量焊接有三十颗LED灯的IPSCFPC板用三次元测试仪测量三十颗LED灯焊接位置有无在同一直线上要花五分钟时间。这种测试方法虽然很有科学性，但三次元测试仪器价格昂贵，测试效率非常之低。

发明内容
为了克服上述缺陷，本发明提供了一种LED灯同线性测试治具，该测试治具价格便宜、测试时间很短，相对成本低、效率高。本发明为了解决其技术问题所采用的技术方案是一种LED灯同线性测试治具， 所述测试治具为一条状的测试片，所述测试片上对应每个需测试的LED灯设有若干与LED 灯形状匹配的测试，测试孔略大于LED灯，其公差在允许偏移公差值范围内，所述测试孔对应LED灯呈线性排列。作为本发明的进一步改进，所述测试片为钢片。作为本发明的进一步改进，所述两测试片的一端重叠后活动套设一外套，所述两测试片在外套中能够沿测试孔排列方向相对滑移，所述外套对应测试孔位置设有条形开口，通过改变两测试片的相对位置来改变组合测试片的测试孔数目，从而实现对不同数量 LED灯的测试，无需根据LED灯数目重制测试片，节省了资源。作为本发明的进一步改进，所述测试片上设有的测试孔数大于二十个，测试孔越多，测试的效率越高。本发明的有益效果是制作该测试治具的成本较低，测量每个带有较多LED灯的板子所用时间不到一分钟，且有效避免了原有的三次元测量仪器价格昂贵测试效率低的缺陷，提高了生产效率。


图1为本发明结构示意图；图2为本发明中组合测试片的结构示意图。
具体实施例方式实施例一种LED灯同线性测试治具，所述测试治具为一条状的测试片1，所述测试片上对应每个需测试的LED灯设有若干与LED灯形状匹配的测试孔2，测试孔略大于LED灯，其公差在允许偏移公差值范围内，所述测试孔2对应LED灯呈线性排列。所述测试片为钢片。根据LED灯的外形尺寸和LED灯的焊接同一直线位置偏移的公差值，制作一个同于LED灯外形尺寸加上LED灯同线性焊接偏移公差值相同尺寸相同大小的测试孔，实施例如果要在产品同一直线上焊接三十个LED灯，在钢片上切割制作三十个同一直线上的测试孔，钢片上三十个测试孔的间距和大小尺寸与三十个LED灯的间距和 LED灯外形尺寸和焊接公差值相同。然后用钢片上三十个个测试孔与焊接好后的三十LED 灯卡下去，如果钢片上的每个测试孔可以全部卡在LED灯上，则判断为这三十个LED灯的焊接偏移公差在允许公差之内，如果某一个测试孔卡不下去，被某一颗LED灯的外形档住了， 则判断为外形档住个测试孔的某一个LED灯焊接位置偏移超出允许公差之外，为不合格产品。所述两测试片1的一端重叠后活动套设一外套3，所述两测试片在外套中能够沿测试孔排列方向相对滑移，所述外套对应测试孔位置设有条形开口 4，通过改变两测试片的相对位置来改变组合测试片的测试孔数目，从而实现对不同数量LED灯的测试，无需根据 LED灯数目重制测试片，节省了资源。所述测试片上设有的测试孔数大于二十个，测试孔越多，测试的效率越高。
权利要求
1.一种LED灯同线性测试治具，所述测试治具为一条状的测试片(1)，其特征在于所述测试片上对应每个需测试的LED灯设有若干与LED灯形状匹配的测试孔O)，所述测试孔 (2)对应LED灯呈线性排列。
2.根据权利要求1所述的一种LED灯同线性测试治具，其特征在于所述测试片为钢片。
3.根据权利要求1所述的一种LED灯同线性测试治具，其特征在于所述两测试片⑴ 的一端重叠后活动套设一外套(3)，所述两测试片在外套中能够沿测试孔排列方向相对滑移，所述外套对应测试孔位置设有条形开口 G)。
4.根据权利要求1所述的一种LED灯同线性测试治具，其特征在于所述测试片上设有的测试孔数大于二十个。
全文摘要
本发明公开了一种LED灯同线性测试治具，所述测试治具为一条状的测试片，所述测试片上对应每个需测试的LED灯设有若干与LED灯形状匹配的测试，测试孔略大于LED灯，其公差在允许偏移公差值范围内，所述测试孔对应LED灯呈线性排列，制作该测试治具的成本较低，测量每个带有较多LED灯的板子所用时间不到一分钟，且有效避免了原有的三次元测量仪器价格昂贵测试效率低的缺陷，提高了生产效率。
文档编号G01B5/25GK102297646SQ201010212900
公开日2011年12月28日 申请日期2010年6月23日 优先权日2010年6月23日
发明者蓝国凡, 黄柏翰 申请人:昆山意力电路世界有限公司